ES650自動化探針系統是一種2針探測解決方案，適用于封裝級、晶圓級和電路板級器件上的HBM、MM、TLP、HMM、CC-TLP、LI-CCDM、RP-CCDM和CDM（JS-002）測量的自動化探針臺。

LVS-500系列低壓浪涌測試儀，輸出波形符合IEC 61000-4-5標準以及GR-1089-CORE和C62.45-2002 IEEE標準中描述的浪涌波形，旨在測試設備在晶圓和封裝級別上的浪涌抗擾性。通過脈沖發生器，可以輕松確定浪涌應力下的EOS故障閾值。

EOS-500過電應力模擬發生器是一款50歐姆輸出阻抗脈沖發生器，用于一般EOS測試，脈沖寬度可在ns至ms范圍內調節。

TLP-1000A系列傳輸線脈沖發生器是獨立TLP脈沖設計，可以產生直接TLP脈沖、E場和H場并將其注入被測器件（DUT）。該發生器設計用于施加高達5kV（50歐姆負載）的高質量矩形脈沖。5英寸彩色IPS觸摸屏和USB端口可以輕松遠程控制電壓極性、振幅和脈沖速率。可定制的脈沖寬度和上升時間以及可變測量附件使發電機功能可擴展。

ES660 ESD靜電放電和閂鎖測試系統是一款先進的多針自動測試設備。針對現代半導體測試的嚴苛要求而設計。產品的測試能力保障大規模器件的高效評估，顯著縮短測試時間并提升生產效率。